1

設(shè)備外形尺寸（長(zhǎng)X寬X高）

尺寸由客戶產(chǎn)品尺寸及需求確定

2

水槽外形尺寸（長(zhǎng)X寬X高）

尺寸由客戶產(chǎn)品尺寸及需求確定

3

水容量

尺寸由客戶產(chǎn)品尺寸及需求確定

4

設(shè)備總重

尺寸由客戶產(chǎn)品尺寸及需求確定

5

機(jī)列總裝機(jī)功率

由客戶產(chǎn)品尺寸及需求確定

6

探傷要求

板材100%掃描檢測(cè)，按照GJB1580A-2004、GB6519-2013、ASTM B594-13、BSS7055-2013、BSS7052-2013、AMS-STD-2154-2017、ASTM E127-2015、ASTM E317-2011、BS EN 12668-1-2013、BS EN 12668-2-2013、BS EN 12668-3-2013、AITM6-0016-2014、AITM6-0013-2014、ISO18563-1、ISO18563-2、ISO18563—3、ASTM E 1065M – 14等標(biāo)準(zhǔn)要求，AA級(jí)驗(yàn)收，擁有執(zhí)行A級(jí)、B級(jí)產(chǎn)品驗(yàn)收的**子系統(tǒng)，對(duì)大面積夾渣能夠檢出。

7

檢測(cè)盲區(qū)

上下表面盲區(qū)均要求≤2.5mm

邊部盲區(qū)不大于10mm

8

重復(fù)性

檢測(cè)結(jié)果一致性應(yīng)具有100%的可重復(fù)性，每4小時(shí)測(cè)試一次，測(cè)試次數(shù)不小于4次，測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)應(yīng)小于±5%。

9

儀器

滿足GJB1580A-2004、GB6519-2013、ASTM B594-13、BSS7052-2013、AMS-STD2154-2017、ASTM E317-2011、BS EN 12668-1-2013、BS EN 12668-3-2013、AITM6-0016-2014、AITM6-0013-2014、ISO-18563-1、ISO-18563—3等標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)收要求，相控陣儀器每年進(jìn)行校準(zhǔn)。儀器制造商通過(guò)CNAS認(rèn)證。

主機(jī)選用為自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)的高性能傳統(tǒng)和相控陣超聲波采集單元的Focus PX。

Focus PX整合型相控陣主機(jī)

超聲設(shè)備主要技術(shù)指標(biāo)如下：FOCUS PX 16:64

相控陣連接晶片數(shù)量  64

每個(gè)聚焦法則支持的**晶片數(shù)量 16

數(shù)據(jù)傳輸 FPX1臺(tái)高達(dá)30 MB/s，2臺(tái)或以上高達(dá)60 MB/s

擴(kuò)展性能 多達(dá)4臺(tái)并行

PRF脈沖重復(fù)頻率 高達(dá)20kHz

A-scan samples A掃數(shù)據(jù)點(diǎn) Up to 16380 **16380

A-scan Resolution A掃分辨率 8 bit / 12 bit

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)壓縮 1 to 2000 ratio

-3dB帶寬 PA : 0.6 MHz to 17.8 MHz

相控陣：0.6 MHz-17.8 MHz

電壓 PA : 4 V, 9 V, 20 V, 40 V, 80 V and 115 V

增益 PA : 80 dB (46 dB analog + 34 dB digital)

相控陣：80dB（ 46dB模擬增益+34dB數(shù)字增益）

IP等級(jí)：IP65

10

標(biāo)準(zhǔn)試塊要求

滿足ASTM E127、BSS 7055等標(biāo)準(zhǔn)要求。提供檢定報(bào)告。

11

相控陣探頭性能

探頭相互間抗干擾性能良好，重復(fù)性好。每個(gè)探頭與設(shè)備的綜合性能指標(biāo)（垂直線性、水平線性、盲區(qū)等）滿足BSS7052-2013、BSS7055-2013、SSD-6-4-7055補(bǔ)充AMS-STD2154-2017、ASTM E317-2011、AITM6-0016-2014、ISO-18563-1、ISO-18563-2、ISO-18563—3、GJB1580A-2004、GB6519-2013、ASTM B594-13等標(biāo)準(zhǔn)要求。(JB/T9214—2010 A型脈沖反射式超聲特殊系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法，JJG746—2004超聲探傷儀要求）。每個(gè)通道可單獨(dú)測(cè)試。

根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)情況、探頭選用定制I1系列奧林巴斯水浸相控陣探頭。

12

常規(guī)探頭性能

性能符合BS EN 12668-2-2013、BS EN 12668-3-2013、ASTM E 1065M – 14、AITM6-0013-2014、BSS7055-2013、AMS-STD2154-2017、ASTM E317-2011、GJB1580A-2004、GB6519-2013、ASTM B594-13

13

信噪比

相控陣探頭：2/64FBH在檢測(cè)范圍內(nèi)應(yīng)大于3:1

常規(guī)探頭：2/64FBH在檢測(cè)范圍內(nèi)應(yīng)大于3:1

14

工作頻率

相控陣探頭：初步配置10MHz和7.5MHz

常規(guī)探頭：根據(jù)買方規(guī)格

15

穩(wěn)定性（24小時(shí)）

每4小時(shí)測(cè)試一次，測(cè)試次數(shù)不小于4次，在動(dòng)態(tài)測(cè)試樣板上進(jìn)行測(cè)試，要求檢出的人工缺陷或自然缺陷應(yīng)能100%有效檢出，在檢測(cè)范圍內(nèi)缺陷測(cè)試的A掃波動(dòng)數(shù)據(jù)和C掃圖顯示的波幅值波動(dòng)應(yīng)小于10%。

23

除氣泡裝置

對(duì)探頭進(jìn)行，氣泡裝置，檢驗(yàn)前應(yīng)對(duì)探頭進(jìn)行，氣泡處理

24

相控陣探頭校準(zhǔn)

晶元校準(zhǔn)、晶元失效測(cè)試、VP一致性校準(zhǔn)、EDAC測(cè)試、有效聲束測(cè)試應(yīng)自動(dòng)完成，檢驗(yàn)前、檢驗(yàn)結(jié)束后及檢驗(yàn)期間靈敏度校驗(yàn)應(yīng)自動(dòng)完成，校驗(yàn)結(jié)果應(yīng)滿足客戶標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求。VP一致性校準(zhǔn)運(yùn)動(dòng)掃查方式應(yīng)與被檢板材掃查方式相同，VP一致性校準(zhǔn)試塊滿足SSD-6-4（BSS-7055補(bǔ)充）要求