72DL 超薄材料測(cè)厚
發(fā)布時(shí)間：2024-06-04
一、 檢測(cè)對(duì)象 試塊材質(zhì)為高分子材料,其他背景客戶未告知。
二、 實(shí)驗(yàn)設(shè)備 ? 主機(jī)：奧林巴斯測(cè)厚儀 72DL ? 探頭：M2104 ? 耦合劑
三、 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) 1. 一號(hào)試塊：0.05mm。 2、二號(hào)試塊：0.025mm。３、三號(hào)試塊：0.015mm。
四、實(shí)驗(yàn)結(jié)論 采用奧林巴斯超聲測(cè)厚儀 72DL 配合高頻 M2104 探頭,可以滿足 0.015mm 厚度測(cè)量。
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